Keysight ra mắt giải pháp kiểm tra hàn nối dây dẫn trong sản xuất bán dẫn

Giải pháp kiểm tra hàn nối dây dẫn Electrical Structural Test (EST) sử dụng công nghệ đo điện dung tiên tiến, EST có khả năng phát hiện các lỗi khó nhận biết như dây chùng và cận đoản mạch, đảm bảo tính toàn vẹn của liên kết dây dẫn. Với khả năng đo kiểm đồng thời 20 mạch tích hợp và thông lượng lên tới 72.000 đơn vị/giờ, giải pháp này đáp ứng nhu cầu sản xuất số lượng lớn, nâng cao chất lượng và độ tin cậy của linh kiện điện tử trong các ứng dụng quan trọng.

Thị trường bán dẫn đang phải đối mặt với những khó khăn thách thức về đo kiểm do mật độ chip ngày càng cao trong các ứng dụng trọng yếu như thiết bị y tế và hệ thống ô tô. Các phương pháp đo kiểm hiện tại thường không phát hiện được các khiếm khuyết về cấu trúc hàn nối dây dẫn, dẫn đến khả năng gây tốn kém do các hư hỏng tiềm tàng. Ngoài ra, các phương pháp đo kiểm truyền thống thường sử dụng các kỹ thuật lấy mẫu không có khả năng xác định đầy đủ các khiếm khuyết về cấu trúc hàn nối dây dẫn.

Giải pháp kiểm tra hàn nối dây dẫn Electrical Structural Test

EST xử lý các thách thức về đo kiểm này bằng cách sử dụng công nghệ cải thiện hiệu năng đo phi vector nano Vectorless Test Enhanced Performance (nVTEP) tiên tiến để tạo ra cấu trúc điện dung giữa liên kết dây dẫn và một tấm cảm biến. Phương pháp này giúp EST xác định các khuyết tật khó phát hiện như dây võng, cận đoản mạch và dây dẫn lạc để có thể đánh giá toàn diện về tính toàn vẹn của hàn nối dây dẫn.

Những lợi ích chính của EST bao gồm:

• Nâng cao khả năng phát hiện lỗi – Xác định nhiều loại lỗi liên kết dây dẫn, bao gồm lỗi về điện và không liên quan đến điện, bằng cách phân tích những thay đổi trong mẫu hình ghép nối điện dung để đảm bảo chức năng và độ tin cậy của các linh kiện điện tử.
• Sẵn sàng áp dụng cho dây chuyền sản xuất số lượng lớn - Có thông lượng lên tới 72.000 đơn vị mỗi giờ nhờ khả năng đo kiểm đồng thời tới 20 mạch tích hợp, giúp tăng năng suất và hiệu quả trong môi trường sản xuất số lượng lớn.
• Tích hợp phân tích dữ liệu lớn: Phát hiện lỗi và nâng cao năng suất thông qua các phương pháp tiên tiến như đo lặp lại theo điều kiện biên (MaRT), đo kiểm trung linh kiện bình động (DPAT) và đo kiểm linh kiện trung bình thời gian thực (RPAT).

Carol Leh, Phó Chủ tịch Trung tâm Năng lực xuất sắc của Nhóm Giải pháp công nghiệp điện tử, Keysight, cho biết: “Keysight luôn đi đầu trong việc đưa ra các giải pháp sáng tạo nhằm giải quyết những thách thức cấp bách nhất trong quy trình hàn nối dây dẫn. Giải pháp đo kiểm kết cấu điện giúp các nhà sản xuất chip nâng cao hiệu quả sản xuất bằng cách nhanh chóng xác định các lỗi hàn nối dây dẫn, đảm bảo chất lượng và độ tin cậy vượt trội trong khi sản xuất khối lượng lớn.”

Giải pháp đo kiểm tra kết cấu điện sẽ được trưng bày tại gian hàng Keysight (K3283) tại SEMICON Đài Loan 2024, Trung tâm triển lãm Nangang Đài Bắc, Hội trường 1, từ ngày 4 đến ngày 6 tháng 9 năm 2024.

Theo tạp chí Điện tử và Ứng dụng